ENG FB kontakt

26.04.2025

Strona główna Listopad 2017 Assessment of impact of stylus length on measurement accuracy for 5-axis coordinate measuring systems *

Assessment of impact of stylus length on measurement accuracy for 5-axis coordinate measuring systems *

Analiza wpływu długości trzpienia na dokładność pomiaru 5-osiowym systemem współrzędnościowym

Piotr Gąska, Adam Gąska, Maciej Gruza, Ksenia Ostrowska, Jerzy Sładek   |   04-11-2017

Mechanik nr 11/2017 - Metrologia techniczna

STRESZCZENIE: Długość trzpienia wykorzystywanego w trakcie pomiarów na współrzędnościowych maszynach pomiarowych należy do ważnych czynników oddziałujących na dokładność pomiaru. Autorzy postanowili sprawdzić, jaki wpływ ma na pomiary przeprowadzane w trybie 5-osiowym, w którym specjalna głowica obrotowo-uchylna pozwala na wykorzystanie 2 ruchów obrotowych w trakcie pomiaru. Badania oparto na znanej metodyce obejmującej pomiar obiektów wzorcowych. Oszacowano wpływ długości trzpienia na dokładność tego rodzaju pomiarów oraz przedstawiono wnioski.

SŁOWA KLUCZOWE: głowice obrotowo-uchylne, dokładność pomiaru

ABSTRACT: Length of stylus used during measurements performed on CMMs is one of the important factors which affect their accuracy. Authors decided to investigate how this factor affects the measurement done in 5-axis mode when articulated probe head is used for adding 2 supplementary rotary movements during measurements. Described research utilize well-known methodology based on measurement of material standards. The impact of the stylus length on obtained results was estimated and conclusions were drawn.

KEYWORDS: articulating probe head, measurement accuracy

BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:

  • Hocken R.J., Pereira P.H. „Coordinate Measuring Machines and Systems”. CRC Press, 2012.
  • Cauchick-Miguel P.A., King T.G. “Factors which influence CMM touch trigger probe performance”. International Journal of Machine Tools and Manufacture. 38, 4 (1998): pp 363–374.
  • Sładek J. “Coordinate Metrology Accuracy of Systems and Measurements”. Springer, 2016.
  • Weckenmann A., Estler T., Peggs G., Mcmurtry D. “Probing systems in dimensional metrology”. CIRP Annals-Manufacturing Technology. 53, 2 (2004): pp. 657–684.
  • Woźniak A. “Dokładność stykowych głowic pomiarowych maszyn współrzędnościowych”. Warszawa: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2010.
  • ISO 10360-5:2010: Geometrical product specifications (GPS) – Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) – Part 5: CMMs using single and multiple stylus contacting probing systems. 2nd ed. 2010.
  • Ratajczyk E., Woźniak A. “Współrzędnościowe systemy pomiarowe”. Warszawa: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2016.
  • Wozniak A., Dobosz M. Metrological feasibilities of CMM touch-trigger probes”. Part II: “3D theoretical model of probe pretravel”. Measurement. 34, 4 (2003): pp. 287–299.

DOI: https://doi.org/10.17814/mechanik.2017.11.170

Pobierz plik / download

Piotr Gąska, Adam Gąska, Maciej Gruza, Ksenia Ostrowska, Jerzy Sładek: Assessment of impact of stylus length on measurement accuracy for 5-axis coordinate measuring systems (Analiza wpływu długości trzpienia na dokładność pomiaru 5-osiowym systemem współrzędnościowym) (PDF, ~0,9 MB)

Strona główna Listopad 2017 Assessment of impact of stylus length on measurement accuracy for 5-axis coordinate measuring systems *

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy