ENG FB kontakt

28.03.2024

Strona główna Aktualności Relacje II Ogólnopolskie Forum Technik Metrologicznych i Obróbki Skrawaniem

II Ogólnopolskie Forum Technik Metrologicznych i Obróbki Skrawaniem

05-07-2016

 II Ogólnopolskie Forum Metrologii i Obróbki Skrawaniem zorganizowane zostało przy współpracy wiodących polskich firm z sektora szeroko pojętej inżynierii produkcji: Oberon 3D, Fatpol Tools, Stigo, Mahr, Lenso, Sauter, do grona których w tej edycji dołączyły firmy: Bibus Menos oraz ATM Oil. Patronat nad całością wydarzenia objęły placówki naukowe - Politechnika Opolska, Wydział Mechaniczny Uniwersytetu Technologiczno – Przyrodniczego w Bydgoszczy oraz Bydgoski Klaster Przemysłowy.
 Jedną z głównych idei Forum jest zmiana profilu organizowanych do tej pory seminariów branżowych. OFTMOS ma być nie tylko okazją do prezentacji firm, ale także przyjrzeniu się zmianom jakie zachodzą na rynku i przede wszystkim wymiany myśli i doświadczeń związanych z szeroko rozumianym procesem inżynieryjnym produkcji a nie tylko wybraną jego fazą. Dlatego Forum od początku przyjęło formę dzielenia się wiedzą bardziej praktyczną niż teoretyczną.
 Celem organizatorów jest opracowanie wspólnego kierunku działań a efektem rozmów przeprowadzonych podczas Forum jest projekt stworzenia platformy wymiany informacji, bazy klientów i opracowania wspólnego kalendarza wydarzeń.
Wzmocni to pozycję i zasięg na rynku wszystkich firm, które wchodziłyby w skład organizacji.
 II Ogólnopolskie Forum Metrologii i Obróbki Skrawaniem odbyło się w Hotelu RUBENS&MONET w Łysomicach k.Torunia w dniach 22 – 24 czerwca 2016 r.
Pierwszy dzień upłynął uczestnikom zjazdu na integracji i był okazją do przeprowadzenia wielu ciekawych rozmów. Drugi dzień sesji rozpoczął się krótkim przemówieniem Remigiusza Koprowskiego, Prezesa firmy Fatpol Tools, a następnie zostały przedstawione przez każdego z organizatorów OFTMOS prezentacje dotyczące nowoczesnych rozwiązań technologicznych stosowanych w metrologii przemysłowej oraz w obróbce skrawaniem (tematy prezentacji będzie można znaleźć na stronie www.oftmos.pl). Strategiczni klienci a także zainteresowani współpracą, którzy licznie przybyli w ten dzień na OFTMOS mogli również zapoznać się z możliwościami zaprezentowanych maszyn na specjalnie przygotowanych do tego celu stoiskach. Właśnie wymiana doświadczeń pomiędzy uczestnikami, reprezentującymi wiele branż utwierdziła organizatorów w przekonaniu o słuszności idei organizowania tego typu zjazdów. Oficjalna część zakończyła się rozdaniem symbolicznych nagród dla losowo wybranych uczestników, którzy wypełnili karty z pytaniami konkursowymi dotyczącymi zagadnień z wykładów. Wieczorem natomiast odbyła się uroczysta kolacja, podczas której nie zabrakło wielu interesujących atrakcji. Ostatni dzień zakończył się trwającymi nadal licznymi dyskusjami i wymianą poglądów oraz spostrzeżeń między uczestnikami.
 Wszystkie zgłaszane do tej pory komentarze pozwolą organizatorom uczynić kolejną edycję OFTMOS jeszcze bardziej efektywną, ale już sama liczba osób uczestniczących podczas drugiego Forum i żywo zainteresowanych formułą spotkania oraz gotowych do dzielenia się własnymi doświadczeniami i spostrzeżeniami jest imponująca co świadczy o skali przedsięwzięcia, potrzebie rozmowy i współdziałania. Dlatego też wszyscy organizatorzy Ogólnopolskiego Forum Metrologii i Obróbki Skrawaniem już dziś zapraszają na kolejną edycję. www.oftmos.pl

Strona główna Aktualności Relacje II Ogólnopolskie Forum Technik Metrologicznych i Obróbki Skrawaniem

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy