ENG FB kontakt

04.05.2024

Strona główna Lipiec 2016 Koncepcja systemu wspomagającego proces prowadzenia analiz za pomocą MES *

Koncepcja systemu wspomagającego proces prowadzenia analiz za pomocą MES *

Concept of system for support of FEA analysis processses

Łukasz Woźnicki, Marcin Dębniak, Jerzy Pokojski   |   09-07-2016

Mechanik nr 07/2016 - XX Międzynarodowa Szkoła Komputerowego Wspomagania Projektowania, Wytwarzania i Eksploatacji

STRESZCZENIE: W pracy przedstawiono koncepcję systemu wspomagającącego proces prowadzenia analiz za pomocą MES. Wspomaganie może być prowadzone na etapach przygotowania modelu, wykonywania obliczeń oraz analizy wyników. Dostępne są także operacje pozwalajace na zarządzanie modelami MES. Rozwiązania zastosowane w nowym systemie zostały porównane z dotychczasowymi.

SŁOWA KLUCZOWE: zarządzanie modelami MES, automatyzacja procesu

ABSTRACT: The paper presents the concept of a PLM application to support FEA analysis processes. The supporting tools can operate during the model development, the problem solving and the results analysis. Management operations are also available. The developed methods are compared with past solutions.

KEYWORDS: management of FEA models, process automation

BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:

  • Pokojski J., Woźnicki Ł., Dębniak M. „Budowa aplikacji wspomagającej proces generowania siatki MES”. Mechanik, 7, 2014, s. 615÷622.
  • Pokojski J., Woźnicki Ł., Dębniak M. „Budowa aplikacji wspomagającej wprowadzanie zmian w modelach MES”. Mechanik, 7, 2015, s. 701÷708.
  • Stark J., „Product Lifecycle Management“. Springer-Verlag, 2005.
  • Stark J., „Global Product“. Springer-Verlag, 2007.

DOI: http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2016.7.215

Pobierz plik / download

Łukasz Woźnicki, Marcin Dębniak, Jerzy Pokojski: Koncepcja systemu wspomagającego proces prowadzenia analiz za pomocą MES (Concept of system for support of FEA analysis processses) (PDF, ~0,4 MB)

Strona główna Lipiec 2016 Koncepcja systemu wspomagającego proces prowadzenia analiz za pomocą MES *

Zamów NEWSLETTER

Kalendarium wydarzeń

Pn
Wt
Śr
Cz
Pt
So
Nd

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy